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IPFA 2009IEEE國際半導體失效分析與可靠性大會
日期：2025-06-06 15:43
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摘要：
IPFA 2009IEEE國際半導體失效分析與可靠性大會
IPFA 2009IEEE國際半導體失效分析與可靠性邀請函在科技日益更新的當今社會，產品的失效分析和可靠性日漸被關注，產品出現可靠性與質量問題后要進行專業的失效分析才能幫助產品有更好的品質提升，因此涌現出對失效分析與可靠性高水平技術人才的大量需求。
IPFA是半導體領域失效分析與可靠性的國際**會議。為培養失效分析與可靠性技術人才，滿足國內外半導體方面專業人員技術提高的愿望，建立國際相關行業信息與技術交流平臺，解決相關企業遇到失效分析與可靠性問題時的疑點和盲區、打破理論與實際脫鉤的窘境、達到失效現象與失效原因直接掛鉤、提高產品可靠性的效果，我們特決定在蘇州舉辦此次面向國際的IEEE國際半導體失效分析與可靠性培訓。
本次培訓特別邀請15位來自中、美、歐洲、新加坡、日本及亞太其他各國及地區專家作培訓講座與技術交流，具體事宜通知如下：
時間：2009年7月6日-10日蘇州獨墅湖高教區
參加對象：失效分析工程師、可靠性工程師、研發與工程技術人員、質量工程師、工藝工程師、制造工程師、設計工程師、供應商管理工程師、研發/工程/采購/質量經理、研究員、相關專業教授、博士生、研究生等。
承辦執行單位：華碧檢測（FA LAB）
承辦執行**協助單位：北京懷遠文化傳媒有限公司
培訓證書：IEEE IPFA2009技術委員會培訓證書/中國電子電器可靠性工程協會培訓證書
注：IPFA2009介紹
第16屆IEEE國際集成電路物理與失效分析會議（IPFA2009）由IEEE南京分會主辦，IEEEReliability/CPMT/ED新加坡分會協辦、由IEEE 電子器件協會與IEEE可靠性協會提供技術支持。IPFA2009是在中國舉辦的有關集成電路與器件方面規模*大、影響*大的國際會議。會議將為期五天，包括兩天的技術培訓講座、三天的論文發表與研討技術交流，同時并行三天的設備展覽。
注:詳細內容和報名表請郵件或電話索取資料.
如果您需要咨詢，請聯系IPFA 2009組委會秘書處，郵箱：[email protected] 或者致電010-67642668，010-52259806. 歡迎登陸網址：http://www.ceeacea.org.cn 以寄信日期，發送郵件或傳真日期為準。
